涂镀层测厚仪OXFORD-243E
YK-OXFORD-243E是一款灵便、易用的仪器，专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术。
YK-OXFORD-243E手持式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确

涂镀层测厚仪OXFORD-243E?测量技术：
      一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的精确测量。
      牛津仪器将的基于相位的电涡流技术应用到YK-OXFORD-243E,使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3% 以内的精确度。
      牛津仪器对电涡流技术的*应用，将底材效应zui小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。
      另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准
 
涂镀层测厚仪YK-OXFORD-243E优势：
1、采用基于相位的电涡流技术，集测量精确、价格合理、质量可靠的优势于一体的手持式测厚仪。
2、专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量，铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。
3、易于用户控制，并且可以同X线荧光测仪的准确性和精密性媲美。
4、为了让客户能以低成本购买OXFORD-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
 
 
 
涂镀层测厚仪OXFORD-243E技术参数
技术参数及功能：
  准确度：相对标准片±3%
  精确度：0.3%
  分辨率：0.1μm
  电涡流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376
存储量：26,500 条存储读数
  尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm
  重量：0.26 kg 包括电池
  单位：英制和公制的自动转换
  接口：RS-232串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机
  显示屏：三位数LCD液晶显示
  电池：9伏碱性电池，65小时连续使用
*的ECP-M探头
        ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量
铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探
针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。
 
测量范围：
铁上镀层    镀层厚度范围     探头
Zn            0–38μm       ECP-M
Cd            0–38μm       ECP-M
Cr            0–38μm      ECP-M
Cu            0–10μm      ECP-M
 
ECP-M探头规格(mm)
zui小凸面半径  1.143 
zui小凹面半径  1.524
测量高度      101.6 
zui小测量直径  2.286
底材zui小      304.8
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